Epitaksja SiC

Krótki opis:

Weitai oferuje niestandardową epitaksję cienkowarstwową (węglik krzemu) SiC na podłożach do opracowywania urządzeń z węglika krzemu.Weitai angażuje się w dostarczanie produktów wysokiej jakości po konkurencyjnych cenach i nie możemy się doczekać, aby zostać Twoim długoterminowym partnerem w Chinach.


Szczegóły produktu

Tagi produktów

Epitaksja SiC (2)(1)

Opis produktu

4h-n 4-calowy 6-calowy wafelek nasienny o średnicy 100 mm o grubości 1 mm do wzrostu wlewków

Rozmiar niestandardowy/2 cale/3 cale/4 cale/6 cali 6H-N/4H-SEMI/4H-N wlewki SIC/wysoka czystość 4H-N 4 cale 6 cali średnica 150 mm monokrystaliczne (sic) węglika krzemu podłoża wafle S/ wafle SIC docinane na zamówienie Produkcja 4 cale Płytki SIC klasy 4H-N 1,5 mm do kryształów zaszczepiających

Informacje o krysztale węglika krzemu (SiC).

Węglik krzemu (SiC), znany również jako karborund, to półprzewodnik zawierający krzem i węgiel o wzorze chemicznym SiC.SiC stosuje się w półprzewodnikowych urządzeniach elektronicznych, które działają w wysokich temperaturach lub wysokich napięciach lub w obu przypadkach. SiC jest również jednym z ważnych komponentów LED, jest popularnym podłożem do uprawy urządzeń GaN, a także służy jako rozpraszacz ciepła w wysokich temperaturach diody LED zasilania.

Opis

Nieruchomość

4H-SiC, pojedynczy kryształ

6H-SiC, pojedynczy kryształ

Parametry sieci

a=3,076 Å c=10,053 Å

a=3,073 Å c=15,117 Å

Sekwencja układania

ABCB

ABCACB

Twardość Mohsa

≈9,2

≈9,2

Gęstość

3,21 g/cm3

3,21 g/cm3

Therm.Współczynnik rozszerzalności

4-5×10-6/K

4-5×10-6/K

Współczynnik załamania przy 750 nm

nie = 2,61
ne = 2,66

nie = 2,60
ne = 2,65

Stała dielektryczna

ok. 9,66

ok. 9,66

Przewodność cieplna (typ N, 0,02 oma.cm)

a~4,2 W/cm·K przy 298K
ok. 3,7 W/cm·K przy 298 K

 

Przewodność cieplna (półizolacyjna)

a~4,9 W/cm·K przy 298K
ok. 3,9 W/cm·K przy 298 K

a~4,6 W/cm·K przy 298K
ok. 3,2 W/cm·K przy 298 K

Pasmo wzbronione

3,23 eV

3,02 eV

Załamanie pola elektrycznego

3-5×106V/cm

3-5×106V/cm

Prędkość dryfu nasycenia

2,0×105 m/s

2,0×105 m/s

Płytki SiC

  • Poprzedni:
  • Następny: